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| 分辨率 | 0.1 |
| 重量 | |
| 品牌 | 霍爾德電子 |
| 貨號(hào) | HD-JD1 |
| 電源電壓 | 220V |
| 型號(hào) | HD-JD1 |
| 測(cè)量范圍 | 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 |
| 規(guī)格 | 臺(tái) |
| 加工定制 | 是 |
| 外形尺寸 | |
| 測(cè)量精度 | 11BIT |
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是表征電介質(zhì)材料性能的關(guān)鍵物理參數(shù)，對(duì)于金屬氧化物、工程板材、陶瓷材料（包括陶器和瓷器）、云母絕緣材料、特種玻璃以及各類(lèi)塑料等高分子材料都具有重要意義。通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)定這些參數(shù)，可以深入分析材料組成、微觀結(jié)構(gòu)及外界環(huán)境條件對(duì)介電性能的影響機(jī)制，從而為優(yōu)化材料配方、改進(jìn)制備工藝以及開(kāi)發(fā)高性能電介質(zhì)材料提供重要的理論依據(jù)和實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。這一研究在電子元器件、電力設(shè)備、通信技術(shù)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。
薄膜介質(zhì)損耗儀是一種用于準(zhǔn)確測(cè)量材料介電性能的專(zhuān)業(yè)儀器，主要應(yīng)用于以下領(lǐng)域：
1.科研機(jī)構(gòu)——用于新型電介質(zhì)材料的性能分析與理論研究，為材料科學(xué)領(lǐng)域的創(chuàng)新提供實(shí)驗(yàn)依據(jù)；
2.高等院校——作為教學(xué)與科研的重要設(shè)備，支撐材料學(xué)、物理學(xué)、電子工程等學(xué)科的實(shí)驗(yàn)研究；
3.工業(yè)企業(yè)——用于無(wú)機(jī)非金屬材料（如陶瓷、玻璃、高分子復(fù)合材料等）的質(zhì)量控制與性能優(yōu)化，指導(dǎo)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與工藝改進(jìn)。
該儀器在電子元器件、絕緣材料、新能源器件等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值，為新型功能材料的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化提供關(guān)鍵測(cè)試手段。
薄膜介質(zhì)損耗儀技術(shù)參數(shù)
| 1 | 信號(hào)源 | DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz |
| 2 | 采樣精度 | 11BIT |
| 3 | 測(cè)量范圍 | 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 |
| 4 | 分辨率 | 0.1 |
| 5 | 測(cè)量工作誤差 | <5% |
| 6 | 電感測(cè)量范圍 | 分辨率0.1nH |
| 7 | 電感測(cè)量誤差 | <3% |
| 8 | 調(diào)諧電容 | 主電容30-540pF |
| 9 | 電容直接測(cè)量范圍 | 1pF～2.5uF |
| 10 | 調(diào)諧電容誤差 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
| 11 | 諧振點(diǎn)搜索 | 自動(dòng)掃描 |
| 12 | 合格預(yù)置范圍 | 5-1000聲光提示 |
| 13 | LCD顯示參數(shù) | F，L，C，Q，Lt，Ct等 |
| 14 | 介質(zhì)損耗系數(shù)精度 | 萬(wàn)分之一 |
| 15 | 介電常數(shù)精度 | 千分之一 |
| 16 | 材料測(cè)試厚度 | 0.1mm-10mm |
| 17 | 技術(shù) | 儀器自動(dòng)扣除殘余電感和測(cè)試引線電感。大幅提高測(cè)量精度。大電容值直接測(cè)量顯示。數(shù)顯微測(cè)量裝置，直接讀值。 |
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